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X-ray qualification of hydrogenated amorphous silicon senso..:

, In: 2023 9th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI),

Menichelli, M. ; Antognini, L. ; Bashiri, A.... - p. 190-193 , 2023

Link: https://doi.org/10.1109/IWASI58316.2023.10164611

RT 
T1 <cTitle>2023 9th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI)</cTitle>: T1 <Title>X-ray qualification of hydrogenated amorphous silicon sensors on flexible substrate</Title>

UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=ieee-10164611&Exemplar=1&LAN=DE
				
A1 Menichelli, M.
A1 Antognini, L.
A1 Bashiri, A.
A1 Bizzarri, M.
A1 Calcagnile, L.
A1 Caprai, M.
A1 Caricato, A.P.
A1 Catalano, R.
A1 Cirrone, G.A.P.
A1 Croci, T.
A1 Cuttone, G.
A1 Dunand, S.
A1 Fabi, M.
A1 Frontini, L.
A1 Grimani, C.
A1 Ionica, M.
A1 Kanxheri, K.
A1 Large, M.
A1 Liberali, V.
A1 Martino, M.
A1 Maruccio, G.
A1 Mazza, G.
A1 Monteduro, A. G.
A1 Morozzi, A.
A1 Moscatelli, F.
A1 Pallotta, S.
A1 Papi, A.
A1 Passeri, D.
A1 Pedio, M.
A1 Petasecca, M.
A1 Petringa, G.
A1 Peverini, F.
A1 Piccolo, L.
A1 Placidi, P.
A1 Quarta, G.
A1 Rizzato, S.
A1 Rossi, G.
A1 Sabbatini, F.
A1 Stabile, A.
A1 Servoli, L.
A1 Talamonti, C.
A1 Tosti, L.
A1 Villani, M.
A1 Wheadon, R.J.
A1 Wyrsch, N.
A1 Zema, N.
YR 2023
SN 2836-7936
K1 Sensitivity
K1 Polyethylene
K1 PIN photodiodes
K1 Detectors
K1 Polyimides
K1 Neutrons
K1 Particle measurements
K1 Sensors
K1 Substrates
K1 Nuclear measurements
K1 Hydrogenated Silicon detectors
K1 Radiation Hardness
K1 Flexible detectors
SP 190
OP 193
LK http://dx.doi.org/https://doi.org/10.1109/IWASI58316.2023.10164611
DO https://doi.org/10.1109/IWASI58316.2023.10164611
SF ELIB - SuUB Bremen

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