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Heater system optimization for robust ePCM reliability and ..:

, In: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),

Ranica, R. ; Berthelon, R. ; Gandolfo, A.... - p. 28.1.1-28.1.4 , 2021

Link: https://doi.org/10.1109/IEDM19574.2021.9720669

RT 
T1 <cTitle>2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)</cTitle>: T1 <Title>Heater system optimization for robust ePCM reliability and scalability in 28nm FDSOI technology</Title>

UL https://suche.suub.uni-bremen.de/peid=ieee-9720669&Exemplar=1&LAN=DE
				
A1 Ranica, R.
A1 Berthelon, R.
A1 Gandolfo, A.
A1 Samanni, G.
A1 Gomiero, E.
A1 Jasse, J.
A1 Mattavelli, P.
A1 Sandrini, J.
A1 Querre, M.
A1 Le-Friec, Y.
A1 Poulet, J.
A1 Caubet, V.
A1 Favennec, L.
A1 Boccaccio, C.
A1 Ghezzi, G.
A1 Gallon, C.
A1 Grenier, JC.
A1 Dumont, B.
A1 Weber, O.
A1 Villaret, A.
A1 Beneyton, R.
A1 Cherault, N.
A1 Ristoiu, D.
A1 Del Medico, S.
A1 Kermarrec, O.
A1 Reynard, JP.
A1 Boivin, P.
A1 Souhaite, A.
A1 Desvoivres, L.
A1 Chouteau, S.
A1 Sassoulas, PO.
A1 Clement, L.
A1 Valery, A.
A1 Petroni, E.
A1 Turgis, D.
A1 Lippiello, A.
A1 Scotti, L.
A1 Disegni, F.
A1 Ventre, A.
A1 Ornaghi, D.
A1 De Tomasi, M.
A1 Maurelli, A.
A1 Conte, A.
A1 Arnaud, F.
A1 Redaelli, A.
A1 Annunziata, R.
A1 Cappelletti, P.
A1 Piazza, F.
A1 Ferreira, P.
A1 Gonella, R.
A1 Ciantar, E.
YR 2021
SN 2156-017X
K1 Resistance
K1 Temperature measurement
K1 Scalability
K1 Microprocessors
K1 Silicon-on-insulator
K1 Computer architecture
K1 Programming
SP 28.1.1
OP 28.1.4
LK http://dx.doi.org/https://doi.org/10.1109/IEDM19574.2021.9720669
DO https://doi.org/10.1109/IEDM19574.2021.9720669
SF ELIB - SuUB Bremen

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